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產品中心介電常數測試儀高低頻介電常數測試儀GCSTD-D高低頻介電常數測試儀器
產品簡介
高低頻介電常數測試儀器-本儀器具有精度高、顯示迅速、性好穩定、讀數方便， 適用于橡膠、塑料、薄膜、及粉體、液體、及固體和膏體形狀的各種絕緣材料體積和表面電阻值的測定。本儀器除能測電阻外，還能直接測量微弱電流。
產品分類
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| 品牌 | 中科微納 | 測試電壓 | AC:220V 50Hz 功率：2KWV |
|---|---|---|---|
| 環境溫度范圍 | -180°~500°℃ | 執行質量標準 | 國標 |
| 產地 | 國產 | 加工定制 | 是 |
| 接觸法 | 適用于厚度均勻、上下表面平整、光滑材料 | 電類型 | 固定電-測量電φ38mm |
| 測試頻率 | 20HZ-2MHZ? | 測試電? | 黃銅電 |
| 測試參數 | C,?L,?R,Z,Y,X,B,?G,?D,?Q,?θ,DCR | 測試頻率 | 20?Hz～2MHz,10mHz步進 |
| 測試信號電 | 10mV～5V,±（10%+10mV） | 平 | 10mV～1V,±（20%+10mV) |
| 輸出阻抗 | 10Ω,?30Ω,?50Ω,?100Ω | 基本zhun確度 | 0.1% |
| 測量速度 | 快速:?200次/s（f﹥30kHz）?,100次/s（f﹥1kHz）?中速:?25次/s,?慢速: | 校準功能 | 開路?/?短路點頻、掃頻清零，負載校準 |
| 等效方式 | 串聯方式,?并聯方式 |
GCSTD-D 高低頻介電常數測試儀器
滿足標準：
GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內）下電容率和介質損耗因數的推薦方法
GB／T1693-2007硫化橡膠介電常數和介質損耗角正切值的測定方法
ASTM D150／IEC 60250固體電絕緣材料的（恒久電介質）的交流損耗特性和介電常數的測試方法
高低頻介電常數測試儀器試驗方法：
接觸法：適用于厚度均勻、上下表面平整、光滑材料
非接觸法：適用于上下表面不平整、不光滑材料
電極類型：固定電極-測量電極φ38mm／φ50mm（標配電極1套，標配為38mm）
液體電極-液體容量15ml
粉體電極-根據樣品量可配專用電極
試樣類型：固體、液體、粉體、膏體／規則物或者不規則物
性能特點：
測試頻率20H2～2MHz，10mHz步進
測試電平10mV～5V，1mV步進
基本準確度0.1％
高達200次／s的測量速度
320x240點陣大型圖形LCD顯示
五位讀數分辨率
可測量22種阻抗參數組合
四種信號源輸出阻抗
10點列表掃描測試功能
內部自帶直流偏置源
外置偏流源至40A（配置兩臺TH1776）（選件）
電壓或電流的自動電平調整（ALC）功能
V、1測試信號電平監視功能
圖形掃描分析功能
20組內部儀器設定可供儲存／讀取
內建比較器，10檔分選及計數功能
多種通訊接口方便用戶聯機使用
2m／4m測試電纜擴展（選件）
中英文可選操作界面
可通過USB HOST 自動升級儀器工作程序
測試材料：
無源元件：電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網絡元件
等的陽抗參數評估和性能分析。
半導體元件：變容二極管的C-VDC特性；晶體管或集成電路的寄生參數分析
其它元件：印制電路板、繼電器、開關、電纜、電池等的阻抗評估
介質材料：塑料、陶瓷和其它材料的介電常數和損耗角評估
磁性材料：鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估
半導體材料：半導體材料的介電常數、導電率和C-V特性
液晶材料：液晶單元的介電常數、彈性常數等C-V特性
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